沖擊電壓試驗

沖擊電壓的試驗按GB14598.27-2008中10.5.3.1規(guī)定的方法進(jìn)行

試驗部位

除非另有規(guī)定，對下列部位進(jìn)行試驗：

在規(guī)定采用同一沖擊電壓的每個電路(或每組電路)與外露可導(dǎo)電部分之間，對該電路(或該組電路)施加規(guī)定的沖擊電壓；

獨(dú)立的電路之間進(jìn)行,每個獨(dú)立電路的端子連接在一起;b)e)給定電路的端子之間進(jìn)行。

試驗中未涉及的電路應(yīng)連接在一起并接地。

除非很明顯,獨(dú)立電路是由制造商描述的那些電路。

對于具有絕緣外殼的設(shè)備，外露可導(dǎo)電部件應(yīng)由一個金屬箔代表。此金屬箔覆蓋除端子之外的整個設(shè)備外殼，各端子四周應(yīng)留出合適的間隙以避免對端子發(fā)生閃絡(luò)。除非另有規(guī)定,兩個獨(dú)立電路之間的試驗,應(yīng)以這兩個電路所規(guī)定的較高的沖擊電壓施加。

如果并非由于電氣擊穿引起，施加到與浪涌抑制、感性器件或分壓器件連接的各測試點(diǎn)上的沖擊電壓波形允許衰減或畸變。除非絕緣不能耐受沖擊電壓試驗,施加到?jīng)]有和這些器件連接的測試點(diǎn)上的波形不應(yīng)顯著衰減或畸變。

試驗電壓

除另有規(guī)定外，直接與交流或直流電源輸入連接的電路，以及與電壓互感器或電流互感器連接的設(shè)備的電路試驗電壓為5kV，其他電路試驗電壓為1kV當(dāng)試驗在設(shè)備的兩個獨(dú)立電路之間進(jìn)行時，應(yīng)采用這兩個額定沖擊電壓中的較高值。

波形和發(fā)生器特性

發(fā)生器的參數(shù)為:

波前時間：1.2(1士30%)us；

半峰值時間：50(1士20%)μs；

輸出阻抗：500(1士10%)Ω；

輸出能量：0.5(1士10%)J。

每根試驗導(dǎo)線的長度不應(yīng)超過2m。

試驗程序

沖擊電壓應(yīng)施加到從設(shè)備外部可接近的合適的點(diǎn)上，其他電路和外露的可導(dǎo)電部分應(yīng)連接在一起并接地。

電氣間隙的驗證試驗,在每一極性施加3次沖擊，且沖擊間隔至少為1s。

固體絕緣能力的驗證試驗，在每個極性施加5次沖擊，并應(yīng)記錄每次沖擊的波形。

用于電氣間隙和固體絕緣的這兩個試驗可以合并為一個通用的試驗程序。

如有必要,對于新的設(shè)備可重復(fù)進(jìn)行沖擊電壓試驗以驗證其性能。該試驗電壓值應(yīng)等于原來規(guī)定值的0.75倍,或由制造廠指明。

試驗驗收準(zhǔn)則

試驗期間不應(yīng)出現(xiàn)破壞性放電(火花、閃絡(luò)或擊穿)。未造成擊穿的電氣間隙的局部放電可被忽略此項試驗后,設(shè)備應(yīng)滿足所有相關(guān)的性能要求。