上一期講了局部放電檢測儀常見的十五種波形圖譜的前五種，這一期我們來將第六到第十種常見的波形。

  ⑥接觸不良的干擾圖形。

  波形特點(diǎn)：對稱地分布在實驗電壓零點(diǎn)兩側(cè)，幅值大致不變，但在實驗電壓峰值附近下降為零。波形粗糙不清晰，低電壓下即出現(xiàn)。電壓升高時，幅值緩慢增加，有時在電壓達(dá)到一定值后會完全消失。

  原因：實驗回路中金屬與金屬不良接觸的連接點(diǎn)；塑料電纜屏蔽層半導(dǎo)體粒子的不良接觸；電容器鋁箔的插接片等（可將電容器充電然后短路來消除）。

  ⑦可控硅元件的干擾圖形。
  波形特點(diǎn)：位置固定，每只元件產(chǎn)生一個獨(dú)立訊號。電路接通，電磁耦合效應(yīng)增強(qiáng)時訊號幅值增加，試驗調(diào)壓時，該脈沖訊號會發(fā)生高頻波形展寬，從而占位增加。

  原因：鄰近有可控硅元件在運(yùn)行。

  ⑧繼電器、接觸器、輝光管等動作的干擾。

  波形特點(diǎn)：分布不規(guī)則或間斷出現(xiàn)，同試驗電壓無關(guān)。

  原因：熱繼電器、接觸器和各種火花試驗器及有火花放電的記錄器動作時產(chǎn)生。

  ⑨熒光燈的干擾圖形。

  波形特點(diǎn)：欄柵狀，幅值大致相同的脈沖，伴有正負(fù)半波對稱出現(xiàn)的兩簇脈沖組。

  原因：熒光燈照明

  ⑩無線電干擾的干擾圖形。

  波形特點(diǎn)：幅值有調(diào)制的高頻正弦波，同試驗電壓無關(guān)。

  原因：無線電話、廣播話筒、載波通訊等。

  下一期我們來講局部放電檢測儀常見的十五種波形圖譜的最后五種。